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May 16, 2023

Verifire™ Asphere+: preventivo, richiesta di offerta, prezzo e acquisto

Hai bisogno di maggiori informazioni? Lascia che ti aiutiamo con le tue richieste, brochure e requisiti di prezzo. L'ottica asferica ha offerto notevoli vantaggi nella progettazione e nell'implementazione di imaging, rilevamento e

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L'ottica asferica ha offerto notevoli vantaggi nella progettazione e nell'implementazione di sistemi di imaging, rilevamento e laser utilizzati nell'esposizione di semiconduttori, nelle industrie della difesa e aerospaziali, nei sistemi di ispezione e nei sistemi di imaging medico.

La produzione di asfere che supportano tali applicazioni si basa sulla metrologia di precisione. In definitiva, gli utenti non possono realizzare ciò che non possono misurare con l'ottica asferica.

Verifire™ Asphere+ (VFA+) sfrutta i vantaggi dell'interferometria di Fizeau per offrire una combinazione unica di metrologia ad apertura completa, precisa, veloce, ad alta risoluzione e per asfere assialsimmetriche.

Il VFA+ offre una piattaforma metrologica adattabile per quantificare una gamma di asfere assialsimmetriche con un cambiamento della sfera di trasmissione. Il VFA+ è stato dotato di uno stadio secondario opzionale che assiste un ologramma generato dal computer (CGH), espandendo la capacità di forma asferica a forme libere non simmetriche e ottiche asferiche fuori asse.

Concentrandosi sul miglioramento dell'esperienza utente, gli utenti possono facilmente impostare nuove misurazioni, navigare tra i dati e i risultati delle misurazioni e diagnosticare i problemi di produzione. Il software Mx™ consente fasi di ricerca e sviluppo e prototipazione efficienti e migliora le applicazioni di produzione con funzionalità di configurazione, allineamento e misurazione con un solo clic.

Credito video: Zygo Corporation

Altre caratteristiche del VFA+

Compass™ -Sistemi di metrologia di processo con microlenti

Progettazione e produzione di componenti elettro-ottici complessi

DynaFiz® - Sistema ottico che fornisce una chiara visualizzazione delle caratteristiche della frequenza medio-spaziale

Interferometri a infrarossi per imaging IR

Misurazione di superfici con una tecnica senza contatto con l'APM650™

Utilizzo della serie ZMI™ per applicazioni OEM

Utilizzo dei sistemi ad ampia apertura di ZYGO per mantenere due cavità metrologiche indipendenti

Verifire™ MST: interferometro per test multisuperficie

Verifire™ XL: interferometro rivolto verso il basso